纳米粒度仪

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APS-100高浓度纳米粒度仪

APS-100高浓度纳米粒度仪,可进行详细的、正确的粒度分析,不需要稀释;不需要设置稀颗粒大小数据,APS可测量未稀释的和/或不透明的样品;

APS-100高浓度纳米粒度仪

主要用途:
1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆;
2)陶瓷;
3)油墨;
4)乳剂稳定性;
5)药品;
6)生物胶体;
7)荧光粉;
8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑;
9)催化剂;
10)矿物;
11)聚合物乳液;
12)水和非水分散体系;

原理简介:

APS从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。
当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。
APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。
计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。
专利的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。

技术参数:
1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据;
2)不需要稀释样品;
3)不需要假设PSD形状;
4)粒度范围:0.005-100微米;
5)无电解质干涉;
6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品;
7)可测量纵向粘度,%固体,PH值,电导率,温度,声衰减和声速度谱;


8)具有自动滴定选项;

9)专利技术:1-100MHz声衰减谱;
10)溶剂:水/非水;
11)样品固体%0.1-60%体积比;

12)样品体积:标准是120ml50ml小体积可用;


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